AQ6370C日本橫河光譜分析儀丨蘇州詠繹
特點
標準版和高性能版
AQ6370C共有2種機型，分別是標準版和高性能版。高性能版可以提供的波長精度更高、動態范圍更大。
高波長分辨率：0.02nm
高波長精度：±0.01nm
- 高性能版：±0.01nm（C波段）
- 標準版：±0.02nm（C+L波段）
| 波長范圍 | 標準版（-10） | 高性能版（-20） |
| 1520~1580nm 1580~1620nm 1450~1520nm 全范圍 | ±0.02 nm ±0.02nm ±0.04nm ±0.1nm | ±0.01nm ±0.02nm ±0.04nm ±0.1nm |
超大動態范圍：78dB（典型值）
由于單色鏡中雜散光變少，AQ6370C可以實現超大動態范圍（Typ.78dB）。
| 標準版（-10） | 高性能版（-20） | |
| 峰值±1.0nm 峰值±0.4nm 峰值±0.2nm | 73dB 62dB 45dB | 73dB（典型值78dB） 64dB（典型值70dB） 50dB（典型值55dB） |
| 分辨率設置：0.05nm | ||
動態范圍實例
峰值±1.0nm、分辨率設置0.05nm、
開啟大動態測量模式、高性能版
更陡峭的濾波邊緣
高性能版AQ6370C也可以實現更大的動態范圍，在峰值波長的0.2nm之內。通過單色鏡更陡峭的光譜特性，可有效分離極為相近的光譜信號，并進行測量。
| 標準版（-10） | 高性能版（-20） | |
| 峰值±0.2nm 峰值±0.1nm | 55dB 37dB | 58dB（典型值60dB） 45dB（典型值50dB） |
| 分辨率設置：0.02nm | ||
光譜陡峭實例
雜散光抑制率：80dB（典型值）
此新規格提供了雜散光抑制功能，從而不需要掃描速度較慢的大動態測量模式。AQ6370C擁有高雜散光抑制率，可以大幅縮短測量時間。
| 標準版（AQ6370C-10） | 高性能版（AQ6370C-20） |
| 73dB | 76dB（典型值80dB） |
| 分辨率設置：0.1nm | |
雜散光抑制率實例
關閉大動態模式、分辨率設置0.1nm、高性能版
寬功率量程：+20dBm~-90dBm
AQ6370C可以測量高功率光源，如光放大器、拉曼放大器的泵浦激光源和微弱光信號。按照測試應用和測量速度的要求，可以從7種類別中選擇測量靈敏度。
- 改進的功率靈敏度：-85dBm（1000~1300nm）
- 平滑功能 - 降低被測光譜的噪聲
- 大動態測量模式 - 輸入強光信號后，易產生雜散光，通過減少雜散光的影響，可獲得更大的動態范圍。
自由空間輸入
一臺OSA可同時處理多模和單模光纖 處理多模光纖時，AQ6370C的低插入損耗有助于保持出色的測量效率。
- 輸入連接器的插入損耗變化小 提高了測量重復性。
- 非物理連接 不會損壞連接的光纖。
- APC功率補償 使用APC功率補償功能可以調整由APC連接器的插入損耗所引起的功率偏差。
出色的效率
快速測量：0.2秒/100nm
通過的單色鏡、更快的電路和降噪技術，AQ6370C可以在0.2秒內完成100nm波長跨度的測量，無論是來自DFB-LD或DWDM的陡譜信號測量，還是寬帶光源的低功率信號測量。
快速遠程接口（以太網、GP-IB）
寬跨度、高分辨率掃描
在保持高波長分辨率的同時，單次掃描的測量范圍可達50,001個數據采樣點。這比傳統系統的測量更簡單、更有效率。
操作簡單
曲線放大功能
- 通過點擊和拖動鼠標可以改變顯示條件，如中心波長和跨度。
- 可以立即放大感興趣的區域并隨意移動。
鼠標&鍵盤操作
- 前面板操作直觀，便于用戶使用。
- 鼠標使操作更簡單。
- 用鍵盤可以輸入標簽和文件名。
簡單的數據處理
USB存儲 USB接口支持大容量移動存儲和硬盤存儲。
- 512MB內存 可保存20,000多個波形數據
- 多曲線一次保存功能 可以將7條曲線即刻保存到一個文件中。
AQ6370C功能
多種分析功能
7條獨立曲線
- 同時顯示多條曲線
- 曲線間運算（兩條曲線相減）
- Max/Min保持
13項數據分析功能
具有代表性的光譜分析功能有：
- 譜寬分析
- WDM（OSNR）分析
- WDM-NF（EDFA）分析
- DFB-LD分析
- FP-LD分析
- LED分析
- SMSR分析
- 各種濾波器分析
- 通過宏編程功能，可以自動組合并執行多個分析功能。
構建自動測試系統
宏編程功能
- 可構建簡單的自動測試系統，無需外部控制器。
- 通過記錄用戶實際擊鍵和參數選擇，可輕松創建測試程序。
快速遠程接口
- GP-IB、RS-232和以太網（10/100Base-T）接口
- 通過高速測量、命令處理和數據傳輸速度，可提高測試系統的測試吞吐量。
- 與SCPI兼容AQ6317仿真模式
- 可使用LabVIEW®驅動程序
易于確保精度
環境條件變化、振東和沖擊對光譜分析儀等光學精密產品的影響將波及光器件，zui終導致光學性能降低。通過標配功能，AQ6370C只要花幾分鐘就可以獲得更高的光學性能，便于快速開始測量。
- 內置波長參考源 AQ6370C標配波長參考源，可用于波長校準和光軸對準調節。
- 波長校準功能 通過內置波長參考源或外部光源可以自動執行校準，確保波長精度。
- 光軸對準調節功能 通過內置光源可以自動對準單色鏡的光路，以確保儀器的高性能。
AQ6370C的整體性能高，不但適用于光器件的生產和光傳輸系統，還可以用于研發及其它多種用途。
- 光有源器件 激光二極管/光纖激光器/光纖放大器/光收發器
- 光無源器件 濾波器/FBG/AWG/WSS/ROADM/光纖
- 光傳輸設備（DWDM、CWDM）
- 支持應用光子設備的開發
DWDM系統的OSNR測量
AQ6370C的大動態范圍功能支持DWDM傳輸系統的OSNR測量（高達50GHz間隔）。通過內置WDM分析功能可以分析WDM信號，并同時顯示多達1024路WDM信號的信道波長、信道功率和OSNR。
光放大器（EDFA）測量
ASE插值法用于測量光纖放大器評價中的增益、NF和主要參數。通過WDM-NF分析功能，可以同時測試多達1024通道的多路信號。通過每個WDM通道的曲線擬合功能，可以計算NF測量中的ASE功率。
AQ6370C參數規格
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