飽和型加速壽命試驗機用 途：

主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCT主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

飽和型加速壽命試驗機特 點：

◆ 真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩定性、再現性；

◆ 超實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉300小時；

◆ 干燥設計，試驗終止采真空干燥設計確保測試區(待測品)的干燥；

◆ 水位保護，透過爐內水位Sensor檢知保護；

◆ 耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k；

◆ 二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置；

◆ 安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕；

技術規格：