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徠卡DM8000M金相顯微鏡簡單介紹
徠卡DM8000M金相顯微鏡，Leica顯微鏡不僅是在光學解析有良好的表現，在半導體晶圓與材料檢視應用的效能上，更是的。經過半導體廠與電子廠的現場測試，所有參與的科技界工程師，給予zui高的評價。
  的詳細介紹
適用于半導體行業的產品系列：
和 DM12000 M金相顯微鏡
更寬視野，更快檢測 —— 高效率的檢驗系統
德國，韋茨拉爾 （Wetzlar）。半導體行業的晶片檢驗、過程控制和缺陷分析都必須快速、精確及符合人機工程學。徠卡顯微系統有限公司zui近推出了符合這些要求的系列產品，即：適用于 8 英寸晶體的 Leica DM8000 M 和適用于 12 英寸晶體的 Leica DM12000 M。
 
宏觀模式下優化的視野
徠卡DM8000 M金相顯微鏡和 DM12000 M 光學檢驗顯微鏡集成的宏觀模式使它們可以提供 4 倍于常規掃描物鏡的視場。因此，用戶可以對整個掃描區域進行精確的缺陷檢測。
 
LED 照明，工作環境更清晰
Leica DM8000 M 和 DM12000 M 顯微鏡的 LED 照明集成在它們的支架中。由于沒有附帶燈箱的干擾，顯微鏡四周的氣流環境。此外，集成在 Leica DM8000 M 和 DM12000 M 顯微鏡中的現代 LED 設備還具有使用壽命長，耗電量低的優點，從而令這兩款顯微鏡都更加經濟環保。LED 設備不僅提供可見光照明，還具備選裝的 i 譜線紫外線照明功能。
 
各角度的超高分辨率
全新的斜射紫外線模式結合了斜射照明和 i 譜線紫外線照明，從而實現了以 3D 或超高分辨率模式對樣品各個角度進行快速簡易的照明。
 
舒適的工作環境，帶來更高的品質
由于舒適工作環境下的效率更高，從而產品質量也更高，因此控制過程的設計達到了zui高的人機工程學標準。照明設備全部集成在顯微鏡支架中且便于控制，因此客戶無須將眼睛和手移開顯微鏡即可調節至其它的觀察方法或照明模式。檢驗系統配備獨立的可調節抬高模塊和聚焦手柄，從而適合所有用戶使用。它的焦點尋像器、存儲功能、以及內置照明器和相襯管理器使得操作更加簡便，并且避免了錯誤的發生。
 
系統集成：匹配的組件
徠卡顯微系統有限公司提供的 徠卡DM8000 M金相顯微鏡 和 DM12000 M 顯微鏡系統地全套集成了顯微鏡、攝像頭和軟件。該系統還可以進行升級以適應特別檢驗、查看軟件選項、以及連接到若干品牌的晶片載入器上。