WA-1150波長計光波長計提供zui高精度的波長測量，同步功率測量，專為在制造環境中表征WDM組件而設計。
這些系統采用Burleigh經過驗證的掃描邁克爾遜干涉儀波長計技術，通過比較其干涉條紋圖案與內置HeNe激光波長標準的干涉條紋圖案來確定測試激光的波長。與其他波長計不同，所有可能影響波長測量的因素都考慮在內，以便使用WA-1150實現±1 ppm的zui高波長精度。
為了提供更完整的WDM組件分析，這些Wavemeter同時測量光輸入信號的總功率。此外，漂移功能可根據時間自動監控波長或功率的任何變化。顯示當前值及其與測量起始點的偏差，以提供測試激光的實時狀態。還報告了大值和小值，以給出測量期間達到的極限。
在這些系統中已經結合了幾種針對WDM組件制造商需求的設計考慮因素。通過內置的HeNe激光波長標準，系統的精度可以長時間保持，無需校準。測量周期時間短至0.1秒，提高了波長表征的效率。堅固耐用的臺式或機架式封裝可大限度地減少典型制造環境中的任何不利影響。
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