1、貴金屬的稀缺與寶貴，讓灰吹法等傳統(tǒng)的破壞性檢測(cè)方法越來(lái)越不適用，市場(chǎng)上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無(wú)損的檢測(cè)方法，而X射線熒光光譜法無(wú)非是很好的貴金屬無(wú)損檢測(cè)方法。

　　2、社會(huì)上金銀首飾摻假現(xiàn)象時(shí)有發(fā)生，不論是商家還是顧客都為此蒙受巨大的損失，而我們的金銀檢測(cè)儀可以讓金銀首飾的真實(shí)含量準(zhǔn)確呈現(xiàn)，在這種公平公開(kāi)的市場(chǎng)環(huán)境下，自然可以規(guī)避風(fēng)險(xiǎn)。

　　3、金銀首飾的摻假現(xiàn)象，讓顧客對(duì)商家產(chǎn)生了不信任，而商家借助金銀檢測(cè)儀可以將誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)的形象展現(xiàn)給顧客。

　　4、客戶(hù)的信任能給珠寶首飾店帶來(lái)更多的營(yíng)業(yè)收入，從而提升了市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。當(dāng)前國(guó)內(nèi)外許多珠寶店都配備有金銀檢測(cè)儀，這也是他們?cè)谛袠I(yè)里能保持*競(jìng)爭(zhēng)力的原因之一。

　　面對(duì)這些紛繁復(fù)雜的商業(yè)和社會(huì)環(huán)境，你有過(guò)困惑嗎？怎么去改變這些現(xiàn)狀呢？怎么讓你的企業(yè)擺脫困境，贏得顧客的信任，重新煥發(fā)生機(jī)?

　　該款貴金屬檢測(cè)儀XF-S7是2020全新款，一款可以測(cè)戒指內(nèi)圈成分的光譜測(cè)金儀器，自主研發(fā)生產(chǎn)的X射線熒光光譜檢測(cè)儀之一，是一款配置的全元素檢測(cè)儀。它配備了進(jìn)口Fast SDD探測(cè)器擁有十多項(xiàng)研發(fā)，性能突出，采用進(jìn)口Fast SDD探測(cè)器，搭載ARM Cortex-A53四核處理器，Linux操作系統(tǒng)

產(chǎn)品細(xì)節(jié)展示

貴金屬檢測(cè)儀XF-S7的外觀

貴金屬檢測(cè)儀EXF9900軟件界面產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)性?xún)r(jià)比高

　　可以快速準(zhǔn)確檢測(cè)各種貴金屬，應(yīng)用廣泛！

無(wú)損檢測(cè)

　　不會(huì)對(duì)珠寶首飾等被測(cè)樣品造成任何損壞。

操作簡(jiǎn)單智能

　　一鍵測(cè)試功能，自動(dòng)化檢測(cè)無(wú)需配備人員

檢測(cè)快速。

　　秒定性，7秒可得出直觀結(jié)果。

便于攜帶

　　一體化設(shè)計(jì)，占用空間小，便于攜帶與管理。

安全耐用

　　具備反輻射功能，整機(jī)壽命超過(guò)10年

度高

　　可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)。

操作安全

　　加裝防輻射裝置，主動(dòng)保護(hù)操作人員安全。

測(cè)金儀是如何檢測(cè)金銀純度的

貴金屬檢測(cè)儀XF-S7的正面結(jié)構(gòu)展示選擇貴金屬檢測(cè)儀XF-S7的核心特征及優(yōu)勢(shì)可測(cè)內(nèi)圈

　　1、一款可檢測(cè)戒指內(nèi)圈成分的光譜測(cè)金儀；

測(cè)試補(bǔ)償

　　2、通過(guò)調(diào)節(jié)攝像頭焦距，準(zhǔn)確明晰樣品的測(cè)試部位，并通過(guò)距離補(bǔ)償測(cè)試結(jié)果；

準(zhǔn)確定位

　　3、采用松下伺服電機(jī)，控制準(zhǔn)直器準(zhǔn)確定位；微距光管

　　4、采用薄Be窗微距點(diǎn)光管，保證測(cè)試的準(zhǔn)確穩(wěn)定性；

降噪

　　5、采用日本風(fēng)扇及熱源分析系統(tǒng)，高度降噪并大大提升儀器的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，延長(zhǎng)使用壽命；

四核處理器+Linux系統(tǒng)

　　6、自主研發(fā)的工控主板，搭載ARM Cortex-A53四核處理器，采用linux操作系統(tǒng)，帶來(lái)更好的系統(tǒng)穩(wěn)定性，提升自定義空間和定制功能；

　　Fast SDD探測(cè)器

　　7、采用定制進(jìn)口高分辨率Fast SDD探測(cè)器，有效提升檢測(cè)度和儀器的測(cè)試穩(wěn)定性；

　　技術(shù)參數(shù)

　　核心特征：可測(cè)戒指內(nèi)圈+高度±%

　　度: ±%

　　整機(jī)分辨率：130±5eV

　　探測(cè)器：進(jìn)口Fast SDD探測(cè)器

　　適用溫度：-11~46℃

　　規(guī)格尺寸：467×370×336(mm)

　　樣品腔：310×248×124(mm)

　　主體結(jié)構(gòu)：高強(qiáng)度金屬支架+鋁合金外殼

　　電腦操作系統(tǒng)：ARM 四核+Linux

　　熱敏打印機(jī)：支持

　　天平/密度儀：支持

　　電池支持：否

　　樣品可視：支持（鉛玻璃）

　　電壓：100V～240V

　　額定功率：150W

　　重量：40公斤