牛津 X射線鍍層測厚儀


應用
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量 ,從質量管理到成本節約有著廣泛的應用
行業
用于電子元器件,半導體,PCB,端子連接器,LED支架和封裝,汽車零部件,衛浴潔具,功能性電鍍,裝飾件,檢測機構和高校……多個行業表面鍍層厚度的測量
技術參數
主要規格 | 規格描述 |
X射線激發系統 | 垂直上照式X射線光學系統 |
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | |
標準靶材:W靶 | |
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準 | |
裝備有安全防射線光閘 | |
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 | |
準直器程控交換系統 | zui多可同時裝配6種規格的準直器 |
多種規格尺寸準直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | |
測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時,zui小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) |
在12.7mm聚焦距離時,zui大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器) | |
樣品室 | CMI900 |
-樣品室結構 | 開槽式 |
-zui大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm |
-XY軸程控移動范圍 | 標準:152.4 x 177.8mm ;還有5種規格任選 |
-Z軸程控移動高度 | 43.18mm |
-XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 |
-樣品觀察系統 | 高分辨彩色CCD觀察系統,標準放大倍數為30倍 |
激光自動對焦功能 | |
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | |
計算機系統配置 | 聯想計算機 彩色噴墨打印機 |
分析應用軟件 | 操作系統:Windows7中文平臺 ;分析軟件包:SmartLink FP軟件包 |
-測厚范圍 | 可測定厚度范圍:取決于您的具體應用。 |
-基本分析功能 | 采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。 |
樣品種類:鍍層 | |
可檢測元素范圍:Ti22 – U92 | |
| 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 |
貴金屬檢測,如Au karat評價 | |
| 材料和合金元素分析, |
材料鑒別和分類檢測 | |
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 | |
元素光譜定性分析 | |
-調整和校正功能 | 系統自動調整和校正功能,自動消除系統漂移 |
-測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot" |
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 | |
測量位置預覽功能 | |
激光對焦和自動對焦功能 | |
-樣品臺程控功能 | 設定測量點 |
連續多點測量 | |
測量位置預覽(圖表顯示) |
-統計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 |
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |
數據庫存儲功能 | |
任選軟件:統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |
-系統安全監測功能 | Z軸保護傳感器 |
樣品室門開閉傳感器 |
精度高、穩定性好
*的數據統計、處理功能
測量范圍寬
NIST認證的標準片
服務及支持


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