Micro Support微區取樣儀
微區取樣儀是微區分析強有力的輔助手段，在顯微紅外、顯微拉曼、XRD、SEM和TEM檢測中，經常會遇到微小待測物被覆蓋、包埋、粘連等問題，有時候待測位置難以采集信號必須將待測物取出，還有時會因為待測物尺寸小于儀器檢測極限帶來許多難題，而微區取樣儀可以幫助用戶輕松解決。
日本MicroSupport微區取樣儀可配套多種精密微工具對微米級的待測物進行相應處理，例如微探針可用于挑取表面上或微孔中的待測物、超聲波銑削工具可去除待測物表面的覆蓋層、微鑷子可夾取膠黏劑中的待測物、收集器可富集小于1μm的待測物、微切刀和真空吸取工具等可切取復合材料其中一層的待測物，甚至是給待測樣品做標記、將FIB制備的樣品快速旋轉放置等處理，都可以在相應的工具輔助下輕松完成，為后續檢測分析創造了條件。
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