----使用福祿克OTDR光纖認(rèn)證測試儀OFP2-100-Q 檢測光纖熔接點

熔接被認(rèn)為是銜接兩根光纖強且可靠的辦法，只因它具有低損耗和小反射率。如操作得當(dāng)，熔接接頭的損耗可低于0.1dB。但若操作不當(dāng)，卻可能拖累整個網(wǎng)絡(luò)。某中心向我們反映網(wǎng)絡(luò)慢，時常出現(xiàn)卡頓，我們使用福祿克OTDR光纖認(rèn)證測試儀幫客戶做了測試，測試給出的結(jié)果是在700米處有熔接點，但熔接點損耗過大引起了網(wǎng)絡(luò)慢，客戶在我們指導(dǎo)下重新做了熔接，網(wǎng)絡(luò)慢的問題就解決了。接下來讓我們細心研究一下這些光纖熔接點的定位和故障診斷方面的注意事項。

如何找到光纖熔接頭

我們可以使用福祿克OTDR光纖認(rèn)證測試儀OFP2-100-Q CH來幫助我們解決問題，質(zhì)量合格的光纖熔接頭不光損耗低而且沒有耦合器的反射，很可能不會被顯示出來。但假如我們想定位一個質(zhì)量合格的熔接接頭，該怎么辦呢？很簡單，只需使用手動OTDR選項對設(shè)置進行一些簡單調(diào)整即可。

首先，我們要在OFP2-100-Q CH上設(shè)置損耗閾值，以定位損耗低于0.1dB的事件。

OFP2-100-Q CH主動設(shè)置的損耗門限為0.15dB，這意味著只會發(fā)現(xiàn)大于等于該水平的事件。但是，損耗門限可以由用戶自定義，范圍是0.01至1.50dB。

請注意，較小門限意味著測驗儀需求進行更多測量或運用更寬脈寬，這可能會添加測試時間或跡線上的死區(qū)。低于0.15dB的損耗門限也可能導(dǎo)致OTDR發(fā)現(xiàn)由于光纖固有缺點導(dǎo)致的錯誤事情。

更改均勻時刻也有助于定位熔接接頭。“均勻時刻”設(shè)置了丈量均勻次數(shù)以創(chuàng)立終軌道——較長時刻可削減噪音，然后提醒更多細節(jié)，如非反射性接頭事件。

辨認(rèn)問題

運用高質(zhì)量的熔接機切開，很簡單完結(jié)正確熔接。可是，假如接頭和脹大部分沒有沿著熔纖盤的導(dǎo)線板正確地放置在熔纖盤內(nèi)，則可能會導(dǎo)致超出光纖的曲折半徑。

如要定位這種類型的應(yīng)力，您可能需求測驗兩種波長：多模為850nm和1300nm；單模為1310nm和1550nm。在較長波長下，受應(yīng)力的光纖將顯示出顯著較高的損耗，而一般較長波長會顯示較低損耗。您可能還需求運用福祿克Visifault來斷定問題是否出現(xiàn)在斷裂或彎曲的光纖，而不是尾纖連接器，因為軌道上的事件一般會出現(xiàn)在連接器附近。

雙向測驗也很重要。假如尾纖與其正在熔接的光纖之間存在反向散射不匹配，則將在一個方向上看起來像增益(即負損耗)，在另一個方向上有過多損耗(即虛偽損耗)。假如從兩個方向進行測驗，并對損耗進行均勻，則可取得實際損耗。

為了簡化雙向測驗，OFP2-100-Q CH內(nèi)置了一個“SmartLoop OTDR”幫手，在雙芯光纖鏈路的遠端運用一個環(huán)路，這樣您就可從一端進行雙向測驗。OFP2-100-Q CH還內(nèi)置有均勻功用，可將兩個丈量結(jié)果進行均勻，然后提供精確的終損耗測試值。

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