1)使用多探針進行納米尺度表面電阻測量，雙探針可以構建一組納米尺度的四點探針；
2)熱傳導測量+電學測量相結合，研究形貌與熱、電相結合的材料納米特性；
3)多NSOM探針進行光學測量，zui簡單的應用為一根探針將光引入光學元件、另一根探針從光學元件再將光收集；
4)一探針對材料進行光或熱降解，另一探針將降解的成分引入其他設備進行化學分析；
5)一探針進行納米化學書寫，另一探針進行成像監控；
6)一探針進行納米壓痕，另一探針同時進行成像及熱掃描……
這只是多探針掃描探針顯微鏡應用的開始，重要的是mv-4000可以為科學家搭建一個多納米手的多功能平臺，來滿足納米材料科學家們許多的想法，而這些想法用傳統的SPM技術并不能夠實現。
告訴我們您的想法，我們來幫您實現吧！
產品規格：
1） 操作模式
原子力顯微鏡(AFM) | 敲擊模式，接觸模式(選配)，所有探針或樣品掃描的AFM操作模式 |
近場掃描光學顯微鏡(NSOM) | 透射模式，反射模式，收集模式，照明模式 |
微分干涉對比(DIC) | 反射和透射 |
折射率成像(Refractive-Index Profiling) | 反射和透射 |
熱傳導及擴展電阻成像 | 接觸模式，敲擊模式，音叉反饋模式(無反饋激光引入干擾信號,選配) |
在線遠場共聚焦(和拉曼及熒光光譜成像) | 反射和透射，針對選擇性拉曼散射超薄膜的探針增強拉曼散射 |
納米蝕刻(NanoLithography) | NanoFountainPen傳輸化學物質和氣體，近場光刻及其他傳統納米蝕刻如電致氧化等，另一根探針進行在線分析 |
納米壓痕(NanoIndentation) | 兆帕力的應用，精確定位及力的控制，另一根探針進行在線分析 |
以上所有功能都可以與在線AFM成像兼容 |
2） SPM掃描頭規格
樣品掃描器 | 壓電材料制薄片掃描器 (3D Flat Scanner™) 厚度為7毫米 |
探針掃描器 | zui多四個獨立控制的壓電材料制薄片掃描器模塊 (3D Flat Scanner™) 厚度為7毫米 |
掃描范圍 | 探針掃描模式，每只探針掃描范圍： 30 microns (XYZ) 樣品掃描模式，掃描范圍： 100 microns (XYZ) 樣品和探針掃描模式，掃描范圍： 130 microns (XYZ) 樣品和兩個探針掃描模式，掃描范圍： 160 microns (XY) |
掃描分辨率 | < 0.05 nm (Z) < 0.15 nm (XY) < 0.02 nm (XY) 低電壓模式 |
粗調定位 | 樣品粗調定位：XY馬達控制臺– 范圍5毫米 – 分辨率0.25微米 探針粗調定位：XY馬達控制臺– 范圍5毫米 – 分辨率0.25微米 Z馬達控制臺– 范圍10毫米 – 分辨率0.065微米 |
反饋機制 | 音叉反饋，懸臂梁光束反彈反饋(選配) |
樣品幾何要求 | 樣品尺寸：標準配置下,直徑zui大至16毫米 正置顯微鏡下使用,直徑zui大至34毫米 只使用探針掃描, 直徑zui大至55毫米 可按客戶要求定制大尺寸樣品操作儀器,直徑zui大至8英寸 特殊樣品形狀：如豎直樣品進行邊緣成像等 |
探針 | 各種針尖外露的玻璃探針，各種常規懸臂梁硅探針均可使用 |
3） 成像分辨率
遠場 | 受光衍射幾何限制 |
光學 | 500納米 |
共聚焦 | 200納米 |
近場掃描光學 | 100納米，條件下可達到50納米(由探針孔徑決定) |
形貌 | Z向噪聲0.05納米 rms. XY橫向分辨率：由針尖直徑和樣品的卷積決定 |
熱成像 | 100納米起，溫度靈敏度0.01ºC，300 ºC或更高(由樣品決定) |
電阻成像 | 25納米起 |
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