在貴金屬檢測領域，傳統的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測，具有消耗性和危險性，且樣品的制備過程耗時更長。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟，可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數，是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。布魯克生產的哪生產的手持式貴金屬檢測儀使用的就是X射線熒光光譜法這一的檢測技術。

X射線熒光光譜法（XRF）的工作原理是利用X射線激發被測物體表面,使得其表面原子發生能級躍遷,利用探測器接收到X射線,然后通過能譜圖對比分析出元素成份。

哪生產的手持式貴金屬檢測儀性能特點：

無損：無損檢測，不需要任何耗材

精準：美國進口FAST^TMSDD探測器，對所有元素均能精準檢測

便捷：集成工業計算機，雙觸摸屏顯示設計，操作流暢便捷

快速：3秒內可對樣品定性識別，60秒內可得出測試結果

直觀：高清晰圖形即時顯示，檢測結果直觀明了

安全：加裝防輻射裝置，主動保護操作人員安全

技術參數：

設備原理：X熒光能量色散

元素分析：全元素

檢出限：100ppm（基體效應）

測量精度：±10PPM～0.1%

擴展不確定度：≤0.19%

鍍層測量：鍍層厚度范圍<30um

X射線源：Rh(銠靶)

探測器：FAST^TMSDD探測器(美國進口)

攝像頭：高清晰攝像定位系統

軟件：菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算

zui大功率：4W

重量：1.23公斤

尺寸：25cm×28cm×9cm

標準配置

主動式射線保護

高壓過壓保護

光管過熱保護

全局故障診斷

升降壓預啟動

專業的輔助支架