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布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 智能成像模式 空氣中-ScanAsyst Air

產品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號:ScanAsyst Air
  • 品牌:
  • 產品類別:半導體材料
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2023-01-05 09:18:43
  • 瀏覽次數:10
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產品簡介

布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針智能成像模式空氣中—ScanAsystAir ScanAsyst Air,是空氣中智能成像模式ScanAsyst探針,僅適用于具有Scansyst成像的AFM

詳情介紹

布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 智能成像模式 空氣中—ScanAsyst Air

ScanAsyst Air,是空氣中智能成像模式ScanAsyst 探針,僅適用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve.

ScanAsyst 利用一種的曲線采集和復雜的算法,對圖像質量進行持續的監測,并能自動地對參數進行適當的調整。因此:

- 無論用戶的技術水平,圖像自動優化都能更快獲取更一致的結果。

- 可直接控制力的強弱,調到超低力,從而保護易碎樣品和針尖不受損壞。

實現了懸臂調節的消除,定位調整,獲得優化讓液態成像變得簡單。

氮化硅單懸臂探針,所有ScanAsyst針尖都有<2度的懸臂彎曲。

詳細規格:

延展閱讀:

關于布魯克:

布魯克公司以的生產工藝,的AFM領域背景,得天獨厚的生產裝備,賦予探針制造眾多的優勢,確保在應用領域中提供AFM解決方案。

布魯克AFM探針制造中心優勢:

*Class100級別的無塵室

*的設計、制造工序及制造工具

*探針設計團隊與AFM設備研發團隊通力合作,配合緊密

*訓練有素的生產團隊,制造出的探針

*的質量管理體系,確保探針性能

在實驗中,用戶所得到的數據取決于探針的質量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制,的質量測試,和AFM領域的背景。所以用戶盡可放心,我們的探針不僅為您當前的應用提供所需的結果,同時也能為將來的研究提供參考數據。

原子力顯微鏡AFM探針:

探針的工作模式:主要分為:掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結構:懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius:一般為10nm到幾十nm。

制作工藝:半導體工藝制作

指標:

探針的指標主要分三個部分,分別對應了基片,微懸臂梁,和針尖三個部分。

1. 基片,就是基片的長,寬,高,各種探針的基片尺寸是基本一致的。

2. 懸臂梁,分為矩形梁和三角形懸臂梁,他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數和共振頻率。而彈性常數K是探針的很重要的一個參數,一般來說,接觸模式的探針的彈性常數小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTESP的彈性常數是40N/m。

3. 針尖,針尖的的幾何形狀是一個四面體。指標主要有,曲率半徑(Tip Radius),探針高度(Tip Height),對應于四面體的指標,前角(Front Angel),后角(Back Angel),側角(Side Angel),還有一個是Tip Set Back,對應的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。

材質:

1. 輕敲探針:一般是單晶硅,型號如RTESP;

2. 接觸模式探針:材質是SiN,而號的SNL接觸探針,懸臂梁是SiN,而針尖則Si(曲率半徑2nm左右),這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖;

3. 功能探針:如磁力探針(MESP),導電探針,則是在普通的硅探針的基礎上再鍍上相應的材料。MESP的鍍層是Co/Cr,SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號介紹:

常用探針型號介紹

1. 輕敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP

2. 接觸模式,SNL,NP,

3. 智能掃描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡,MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡,導電AFM,等電學測量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。

6. 其他特殊功能探針。如金剛石探針,大長徑比探針。


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