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布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 輕敲模式 OTESPA R3

產(chǎn)品二維碼
參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號:OTESPA R3
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:半導(dǎo)體材料
  • 所在地:
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時間:2023-01-05 10:32:42
  • 瀏覽次數(shù):15
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  • 經(jīng)營模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:522條
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  • 最近登錄:2023-01-05
  • 聯(lián)系人:紹兵
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產(chǎn)品簡介

Bruker布魯克 OTESPA-R3 原子力顯微鏡探針布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針輕敲模式OTESPAR3 針尖位于測微懸臂的前端,使用者非常容易定位

詳情介紹

Bruker布魯克 OTESPA-R3 原子力顯微鏡探針

布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 輕敲模式 OTESPA R3


針尖位于測微懸臂的前端,使用者非常容易定位。

此型號為布魯克貼標(biāo)產(chǎn)品,同型號奧林巴斯OMCL-AC160TS-R3 探針。

懸臂共振頻率:300 (±100) kHz(空氣中),彈性系數(shù):26 N/m。

針尖曲率半徑:7nm(典型值)

AL涂層。

OTESPA-R3可視探針優(yōu)點:

1)激光定位更容易

針尖位于懸臂的末端。探針定位更容易,特別是當(dāng)AFM和光學(xué)顯微鏡結(jié)合使用時,如使用Bioscope Resolve時。

2)高橫向分辨率:

針尖曲率半徑對圖像分辨率有極大影響。四面體形狀是獲得點更小針尖曲率半徑的理想形狀。Otespa—R3曲率半徑很小,即使有鋁涂層,其平均曲率也小于10nm。

OTESPA探針覆蓋了的應(yīng)用范圍,但它在晶體表面、薄膜、IC器件等方面的觀察非常出色。

3)粗糙樣本的觀察:

針尖非常薄,頂錐角為35度,使用者可以看到樣品的一部分。此外,針尖是一個傾斜的角度,安裝到AFM上以后,這個角度會變小(可能是5到20度)。這對粗糙樣品同樣適用。

詳細(xì)規(guī)格:

延展閱讀:

關(guān)于布魯克:

布魯克公司以的生產(chǎn)工藝,的AFM領(lǐng)域背景,得天獨厚的生產(chǎn)裝備,賦予探針制造眾多的優(yōu)勢,確保在的應(yīng)用領(lǐng)域中提供AFM解決方案。

布魯克AFM探針制造中心優(yōu)勢:

*Class100級別的無塵室

*的設(shè)計、制造工序及制造工具

*探針設(shè)計團隊與AFM設(shè)備研發(fā)團隊通力合作,配合緊密

*訓(xùn)練有素的生產(chǎn)團隊,制造出的探針

*的質(zhì)量管理體系,確保探針性能

在實驗中,用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質(zhì)量及探針的重復(fù)性。布魯克的探針具有嚴(yán)格的納米加工控制,的質(zhì)量測試,和AFM領(lǐng)域的背景。所以用戶盡可放心,我們的探針不僅為您當(dāng)前的應(yīng)用提供所需的結(jié)果,同時也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù)。

原子力顯微鏡AFM探針:

探針的工作模式:主要分為:掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結(jié)構(gòu):懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius:一般為10nm到幾十nm。

制作工藝:半導(dǎo)體工藝制作

指標(biāo):

探針的指標(biāo)主要分三個部分,分別對應(yīng)了基片,微懸臂梁,和針尖三個部分。

1. 基片,就是基片的長,寬,高,各種探針的基片尺寸是基本一致的。

2. 懸臂梁,分為矩形梁和三角形懸臂梁,他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數(shù)和共振頻率。而彈性常數(shù)K是探針的很重要的一個參數(shù),一般來說,接觸模式的探針的彈性常數(shù)小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數(shù)從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTESP的彈性常數(shù)是40N/m。

3. 針尖,針尖的的幾何形狀是一個四面體。指標(biāo)主要有,曲率半徑(Tip Radius),探針高度(Tip Height),對應(yīng)于四面體的指標(biāo),前角(Front Angel),后角(Back Angel),側(cè)角(Side Angel),還有一個是Tip Set Back,對應(yīng)的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。

材質(zhì):

1. 輕敲探針:一般是單晶硅,型號如RTESP;

2. 接觸模式探針:材質(zhì)是SiN,而號的SNL接觸探針,懸臂梁是SiN,而針尖則Si(曲率半徑2nm左右),這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖;

3. 功能探針:如磁力探針(MESP),導(dǎo)電探針,則是在普通的硅探針的基礎(chǔ)上再鍍上相應(yīng)的材料。MESP的鍍層是Co/Cr,SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號介紹:

常用探針型號介紹

1. 輕敲模式,RTESPA-300,TESP,F(xiàn)ESP

2. 接觸模式,SNL,NP,

3. 智能掃描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡,MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡,導(dǎo)電AFM,等電學(xué)測量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。

6. 其他特殊功能探針。如金剛石探針,大長徑比探針。

布魯克Bruker原子力顯微鏡探針TESPA:TESPA-v2

布魯克Bruker原子力顯微鏡探針OTESPA-R3


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