在貴金屬檢測領(lǐng)域，傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測，具有消耗性和危險性，且樣品的制備過程耗時更長。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對成熟，可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數(shù)點后四位數(shù)，是我國普及型貴金屬檢測技術(shù)的發(fā)展方向。西凡科技制造的金銀檢測儀引用的就是X射線熒光光譜法這種的貴金屬檢測技術(shù)。
貴金屬檢測儀XF-A6是西凡科技根據(jù)多年的貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗，自主研發(fā)生產(chǎn)的X射線熒光光譜檢測儀之一，是一款配置的全元素檢測儀。它配備了進口SDD或Si-PIN探測器，采用航空設(shè)計，大氣，擁有十多項研發(fā)，性能突出，體積小重量輕，符合新國標GB18043-2013，可對金銀首飾進行準確檢測。
這是一款便攜式貴金屬檢測儀，體積小重量輕，外觀緊湊美觀，重量小，可便攜，樣品腔自帶鉛玻璃，純金屬機身打造。占用空間小。適用于小空間客戶。
貴金屬檢測儀XF-A6技術(shù)參數(shù)
設(shè)備原理：X熒光能量色散
精確度: SI-PIN ±0.05%；SDD 0.01%
整機分辨率：145±5eV
探測器： 進口Si-PIN探測器
適用溫度： -11~46℃
內(nèi)置電容觸摸LED屏：是（9.7吋OLED）
支持儀器尺寸：:312x480x310mm
測試室尺寸：300x240x110mm
天平/密度儀：支持
是否電腦：電腦一體機
電壓： 100V～240V
額定功率：160W
重量：20公斤
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