XF-S5貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于珠寶首飾工廠以及回收等行業和單位。該產品采用的進口定制Fast SDD探測器，內置四核CPU工控電腦，采用X射線與可見光共焦點光路以及全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高。

貴金屬檢測儀XF-S5產品特點

元素檢測范圍：鉀(9)～鈾(No.92)          

可支持最多30個元素同時計算

分析范圍：0.005%～99.999%

檢測精度：±0.01%(9999金)

檢測樣品：貴金屬合金/液體

定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態監控及數據采集

支持多點連續測試，測試效率高

選裝10工位轉盤，自動連續測試10個樣品

貴金屬檢測儀XF-S5產品規格

輸入電壓：AC100～240V，50Hz

產品包裝尺寸：566mmx531mmx500mm

產品尺寸：450mmx422mmx378mm

樣品艙尺寸：366mmx336mmx141mm

額定功率：180W

毛重：61KG（包含顯示器、UPS等）

凈重：39KG

噪音：50dB

使用環境：

溫度：15℃～31℃

濕度：<70%（不結露）