- XF-A5S貴金屬成分無損檢測儀是西凡儀器面向貴金屬成分無損檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于珠寶首飾工廠以及回收等行業和單位。該產品采用目前的進口定制Si-PIN探測器，內置四核CPU工控電腦，采用全新的垂直光路。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高，性價比。
貴金屬檢測儀XF-A5S產品特點
元素檢測范圍：鉀(9)～鈾(No.92)
可支持最多30個元素同時計算
分析范圍：0.01%～99.99%
檢測精度：±0.03%(999金)
檢測樣品：固體/液體/粉末
定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態監控及數據采集
支持多點連續測試，測試效率高
內置ARM四核XRF專用電腦+Linux內核，無懼木馬和病毒軟件
選裝10工位轉盤，自動連續測試10個樣品
貴金屬檢測儀XF-A5S核心部件
探測器：AMPTEK定制版Si-PIN探測器
內置工控電腦：NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF專用電腦
高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：玻璃窗
靶材：鎢
焦點：? 0.5mm
準直器：?2.5mm
貴金屬檢測儀XF-A5S核心部件產品規格
輸入電壓：AC100～240V，50Hz
產品包裝尺寸：565mmx535mmx500mm
產品尺寸：450mmx422mmx378mm
樣品艙尺寸：366mmx336mmx141mm
額定功率：<150W
毛重：47KG
凈重：35KG
噪音：50dB
使用環境：
溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結露）
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