| 單懸臂帶針尖探針： | ||
| NSC19/AlBS | 接觸模式、輕敲模式及力調制模式，探針曲率半徑10nm，鍍鋁硅探針，固有頻率為80kHz | |
| SCD19/AlBS | 接觸模式、輕敲模式及力調制模式，探針曲率半徑10nm，金剛石探針，固有頻率為80kHz | |
| DP19/HiRes-C/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑1nm，類金剛石tip，固有頻率80kHz | |
| DP19/HiRes-W/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑1nm，鎢tip，固有頻率80kHz | |
| SCD19/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率80kHz | |
| SCD18/AlBS | 力調制模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率75kHz | |
| NSC18/AlBS | 溶液下輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率75kHz | |
| NSC18/Cr-AuBS | 腐蝕溶液下輕敲模式，探針曲率半徑50nm，硅探針，固有頻率75kHz | |
| NSC18/Co-Cr | 用于表面磁疇測量，探針曲率半徑90nm，磁鍍層，固有頻率75kHz | |
| SCD17/AlBS | 接觸模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率12kHz | |
| CSC17/AlBS | 接觸模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率12kHz，鍍鋁 | |
| CSC17/Cr-AuBS | 接觸模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率12kHz，鍍金 | |
| DP17/LS/AlBS | 接觸模式，探針曲率半徑30nm，鍍硬模探針，固有頻率12kHz | |
| DP15/HiRes-C/AlBS | 真空下的輕敲模式，探針曲率半徑1nm，類金剛石tip，固有頻率300kHz | |
| DP15/HiRes-W/AlBS | 真空下的輕敲模式，探針曲率半徑1nm，鎢tip，固有頻率300kHz | |
| SCD15/AlBS | 真空下的輕敲模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率300kHz | |
| NSC15/AlBS | 真空下的輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率300kHz | |
| DP15/LS/AlBS | 真空下的輕敲模式，探針曲率半徑30nm，鍍硬膜探針，固有頻率300kHz | |
| DP14/HiRes-C/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑1nm，類金剛石tip，固有頻率160kHz | |
| DP14/HiRes-W/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑1nm，鎢tip，固有頻率160kHz | |
| SCD14/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑7nm，金剛石探針，固有頻率160kHz | |
| NSC14/AlBS | | |
| DP14/LS/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑30nm，鍍硬模硅探針，固有頻率160kHz | |
| DPE14/AlBS | 用于表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率160kHz | |
| DPE15/AlBS | 用于表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率300kHz | |
| DPE16/AlBS | 用于表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率170kHz | |
| DPE17/AlBS | 用于表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率12kHz | |
| DPE18/AlBS | 用于表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率75kHz | |
| DPE19/AlBS | 用于表面電勢，電容和擴展電阻等測量模式，探針曲率半徑30nm，鉑鍍層，固有頻率80kHz | |
| NSC14/Ti-Pt | 用于導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率160kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項 | |
| CSC17/Ti-Pt | 用于導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率12kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項 | |
| NSC19/Ti-Pt | 用于導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率80kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項 | |
| 三懸臂帶針尖探針： | ||
| NSC35/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率A：210kHz、 B：315kHz、C：150kHz | |
| NSC36/AlBS | | |
| CSC37/AlBS | 接觸模式或輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率A：28kHz、 B：21kHz、C：41kHz | |
| CSC38/AlBS | 接觸模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率A：14kHz、 B：10kHz、C：20kHz | |
| NSC35/Ti-Pt | 用于導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率A:210kHz、B:315kHz、C：150kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項 | |
| NSC36/Ti-Pt | 用于導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率A:105kHz、B:155kHz、C：170kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項 | |
| CSC37/Ti-Pt | 用于導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率A:28kHz、B:21kHz、C：41kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項 | |
| CSC38/Ti-Pt | 用于導電AFM測量，探針曲率半徑35nm，鉑銥鍍層，固有頻率A:14kHz、B:10kHz、C：20kHz，可提供鉑/鋁、鉑/無鋁、金鍍層等選項 | |
| 無針尖及六懸臂帶針尖探針： | |
| NSC12/tipless/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率A：210kHz、 B：315kHz、C：150kHz、D：105kHz、E：155kHz、F：170kHz |
| CSC12/tipless/AlBS | 輕敲模式，探針曲率半徑10nm，硅探針，固有頻率A：28kHz、 B：21kHz、C：41kHz、D：14kHz、E：10kHz、F：20kHz |
| TL01 | 多次諧波成像用，探針曲率半徑10nm，探針高度5um,固有頻率90KHZ， |
| TL02 | 多次諧波成像用，探針曲率半徑10nm，探針高度5um,固有頻率60KHZ， |
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