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S8000 系列（NEW ! ）

追求性能！完成挑戰性的納米分析工作。

TESCAN推出了全新一代S8000系列掃描電鏡，目前包括：S8000型分辨場發射掃描電鏡和S8000G型鎵離子聚焦離子束雙束掃描電鏡。

S8000 FE-SEM

全新設計的S8000分辨場發射掃描電鏡可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。 S8000 FE-SEM的優點： 新一代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力 配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現磁性樣品高分辨成像及

S8000G FIB-SEM

S8000G是TESCAN新S8000系列掃描電鏡的個新成員，是一款分辨雙束FIB-SEM系統，它可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，并能以的精度、效率完成復雜的納米加工和操作，可滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求。 S8000G FIB-SEM的優點： 新一代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力 配置的靜電-

S8000 系列（NEW ! ）S8000 FE-SEM

全新設計的S8000分辨場發射掃描電鏡可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業研發和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。

S8000 FE-SEM的優點：

· 新一代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力

· 配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現磁性樣品高分辨成像及分析

· 配置4個新一代探測器，可實現9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加

· 配置大型樣品室，有超過20個擴展接口，為原位觀測、分析創造了良好的工作環境

· 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL，并實現與Raman聯用

S8000 系列（NEW ! ）S8000G FIB-SEM

S8000G是TESCAN新S8000系列掃描電鏡的個新成員，是一款分辨雙束FIB-SEM系統，它可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，并能以的精度、效率完成復雜的納米加工和操作，可滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求。

S8000G FIB-SEM的優點：

· 新一代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力

· 配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現磁性樣品高分辨成像及分析

· 配置4個新一代探測器，可實現9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加

· 配置大型樣品室，有超過20個擴展接口，為原位觀測、分析創造了良好的工作環境

· 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，并實現與TOF-SIMS、Raman聯用

· 新一代操作軟件和自動功能，FIB鏡筒具有全自動的離子鏡筒對中，極大簡化了操作

設備：

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