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Bruker 探針式表面輪廓儀（臺階儀）DektakXT

(一)、概述

布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設計，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性<5?。這一式的產品源自于Dektak系列，長達四十年的表面測量技術。實現了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫療、科學研究和材料科學領域大顯身手。

臺階高度重復性優于5埃（<5 ?）

· 單拱龍門式設計實現了突破性的掃描穩定性

· 的"智能化電子器件"實現了低噪聲的新

操作簡便，高效易用

· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程

· 的傳感器設計使得在單一平臺上即可實現超微力和較大的力測量

· 自對準的探針設計使用戶可以地更換探針

探針式輪廓儀的

· 性能，物超所值

· 完備的零配件為您優化或延伸機臺的多種應用提供保障

(二)、歷史：技術四十余年

過去四十年間，范圍內有上萬臺Dektak系列產品應用于各個領域，用于膜厚、應力、表面粗糙度和面形的測量。它們以、可靠、高效等特性廣受贊譽。