Bruker 探針式表面輪廓儀(臺階儀)DektakXT
(一)、概述
布魯克DektakXT (探針式表面輪廓儀)設計,實現了更高的重復性和分辨率,垂直高度重復性<5?。這一式的產品源自于Dektak系列,長達四十年的表面測量技術。實現了納米尺度的表面輪廓測量,在微電子、半導體、太陽能、高亮度LED、觸摸屏、醫療、科學研究和材料科學領域大顯身手。
臺階高度重復性優于5埃(<5 ?)
· 單拱龍門式設計實現了突破性的掃描穩定性
· 的"智能化電子器件"實現了低噪聲的新
操作簡便,高效易用
· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程
· 的傳感器設計使得在單一平臺上即可實現超微力和較大的力測量
· 自對準的探針設計使用戶可以地更換探針
探針式輪廓儀的
· 性能,物超所值
· 完備的零配件為您優化或延伸機臺的多種應用提供保障
(二)、歷史:技術四十余年
過去四十年間,范圍內有上萬臺Dektak系列產品應用于各個領域,用于膜厚、應力、表面粗糙度和面形的測量。它們以、可靠、高效等特性廣受贊譽。















所有評論僅代表網友意見,與本站立場無關。