三維光學(xué)顯微鏡
布魯克作為三維表面測量與觀察,提供從微觀如MEMS(微機(jī)電系統(tǒng))到宏觀如發(fā)動(dòng)機(jī)腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代,在原有Wyko®專有技術(shù)基礎(chǔ)上,不斷積累,來保證面對(duì)各種應(yīng)用環(huán)境時(shí)三維測量所需的高靈敏度和穩(wěn)定性;而這一挑戰(zhàn)往往是其他測量技術(shù)或測量系統(tǒng)難以克服的。
布魯克三維光學(xué)顯微系統(tǒng)在一直以佳服務(wù)和支持著稱,在性上一貫良好。從研究型實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)型車間和半導(dǎo)體無塵間,數(shù)以幾千計(jì)的系統(tǒng)被使用。作為為質(zhì)量控制和研發(fā)設(shè)計(jì)的測量儀器,可用于加工制造類應(yīng)用的監(jiān)控,在汽車、航空航天、高亮度LED、太陽能、半導(dǎo)體和科研領(lǐng)域,布魯克總有一款適合您應(yīng)用和與預(yù)算的三維光學(xué)顯微測量系統(tǒng)。
ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀
粗糙度測量的精簡而經(jīng)濟(jì)的臺(tái)式
ContourX-100光學(xué)輪廓儀以的為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計(jì)量樹立了新的。小尺寸系統(tǒng)采用流線型封裝,可提供的2D / 3D高分辨率測量功能,并結(jié)合了數(shù)十年布魯克白光干涉測量(WLI)技術(shù)。具有測量功能的臺(tái)式系統(tǒng)具有的用戶友好界面,可直觀訪問的預(yù)編程過濾器庫,并用于加工的表面,厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。下一代增強(qiáng)功能包括新的5 MP攝像頭,更新的載物臺(tái)和新的測量模式,以實(shí)現(xiàn)更大的靈活性。您不會(huì)發(fā)現(xiàn)比ContourX-100更有價(jià)值的臺(tái)式設(shè)備。
ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀
輪廓GT-K
的計(jì)量
ContourX-100輪廓儀是非接觸表面計(jì)量,表征和成像領(lǐng)域超過四十年的專有光學(xué)。該系統(tǒng)利用3D WLI和2D成像技術(shù)在一次采集中進(jìn)行多種分析。ContourX-100在從%到100%的反射率的所有表面情況下都非常堅(jiān)固。
輪廓X-100
WLI為所有目標(biāo)提供恒定且的垂直分辨率。
輪廓X-100
ContourX-100手動(dòng)平臺(tái)。
ContourX-100臺(tái)式機(jī)具有成千上萬的定制分析功能以及布魯克簡單而強(qiáng)大的VisionXpress™和Vision64®用戶界面,為實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合,可提供對(duì)ding 級(jí)高通量光學(xué)性能的簡化訪問,超越了同類計(jì)量技術(shù)。













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