透射電鏡校準標準樣品MAGICAL是為透射電鏡校準提供的電鏡標定標準樣品和電鏡校準標樣,是一種的可追溯電鏡校準樣品和電鏡校正標準樣品.
透射電鏡校準標準樣品MAGICAL是為透射電鏡校準提供的電鏡標定標準樣品和電鏡校準標樣,是一種的可追溯電鏡校準樣品和電鏡校正標準樣品.
特點
這種的校準樣品可以直接追溯到硅的晶格常數(shù)。
所有放大范圍內的圖像放大倍率
相機恒定校準
圖像/衍射圖旋轉校準
描述
可溯源透射電子顯微鏡校準樣品
這種的校準樣品可直接追溯到硅的晶格常數(shù)，可用于在所有透射電子顯微鏡（TEM）中執(zhí)行三個主要儀器校準：
所有放大范圍內的圖像放大倍率
相機常數(shù)
圖像/衍射圖旋轉校準
應用
放大校準是電子顯微鏡中較常見的校準，因為重要的是要知道顯微鏡控制臺上的圖像上的放大值是否準確，如果不是如何校正該值。使用的MAG I CAL校準樣品，您可以在TEM的整個放大倍率下執(zhí)行此校準，約1000x至1,000,000x。由于樣品本身是單晶，因此也可用于執(zhí)行相機常數(shù)校準以及圖像/衍射圖案旋轉校準。雖然MAG I CAL校準樣品是由材料科學家開發(fā)的，但是使用TEM的生命科學家會發(fā)現(xiàn)使用MAG I CAL同樣有用。
描述
MAGICAL校準參考標準是硅基半導體多層的離子銑削橫截面TEM樣品。它由四組5?10nm厚的SiGe合金層組成，與?13nm厚的純硅層交替。器件質量外延層通過分子束外延（MBE）生長為單晶硅襯底上的應變層。四組交替層（超晶格）在TEM中提供暗和亮的對比度，并且通過高分辨率透射電子顯微鏡（HREM）直接校準參考硅的{111}晶格間隔，如在單晶硅襯底上測量的。標準上的校準標記直接以自然常數(shù)表示，即硅的晶格常數(shù)，這樣MAGICAL為自然基本常數(shù)提供了不間斷的可追溯性。
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