CAMTEK自動光學檢驗2D檢測設備

公司概述

Camtek是一個的開發商和制造商的半導體行業檢驗和計量設備。Camtek的系統檢查和測量晶圓半導體器件的整個生產過程,包括前道和封裝,和組裝的檢測。Camtek系統檢查晶片是苛刻的半導體市場,包括互連包裝、內存、CMOS圖像傳感器、微機電系統和射頻,服務的IDMs OSATs和鑄造廠。

性能：Camtek檢驗和計量系統可以在高通量檢測有缺陷的ICs可靠,確保只有known-good-die交付給客戶的終產品。的包裝技術的增長,已被證明是解決方案的產品,Camtek提供了各種檢驗和計量技術,可以根據客戶的需求快速高效地幫助他們滿足嚴格的要求沒有缺陷的產品以及支持需求增長和投放市場的時間。

：Camtek使得它的技術人檢驗和計量在半導體領域的細分市場服務,通過交付解決方案,已成為許多應用的行業標準。 獲勝的結合性能和靈活性與易操作和可靠性,為客戶提供的資本投資。

響應性：本地團隊在每一個領域是獨立的,能夠安裝系統,添加新功能和提供所需的的服務我們的客戶。精益組織結構使快速反應引起行業需求和挑戰。Camtek軟件,模塊化的體系結構的系統可以解決的客戶需求的高度定制,同時提供簡單和具有成本效益的領域升級包安裝設備。

CAMTEK 自動光學檢驗AOI設備 在碳化硅(SiC) 領域的應用

碳化硅碳化硅晶片是未來一代半導體材料,具有的電學性能和的熱性能。 與硅片和砷化鎵晶片相比,碳化硅晶片更適合高溫和高功率設備應用程序。
Camtek開發的檢驗和計量解決方案,以及分析工具來解決這一新興市場。

功能

?處理透明材料區域使用黑暗查克在晶片上
?背光查克的早期階段的過程
?朋友處理透明的晶片
?eef——邊緣控制能力
?自動缺陷分類(ADC)基于收益管理的深度學習
?弓測量
?預測收益率-晶圓缺陷位置精度<2um

技術

?sts -表面形貌傳感器
?背光

產品

EagleT-AP

為的包裝設計市場,EagleT-AP提供了2 d和3 d檢驗和計量在同一平臺上,同時保持的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

設計的速度和準確性,Camtek EagleT-i是一個快的和的2 d檢查工具在市場上。