美國布魯克Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon
Bruker公司的AFM具有多項技術(shù),以其的性能應(yīng)用于科研和工各領(lǐng)域
Dimension Icon 系列作為布魯克公司(Bruker AXS)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品,凝聚了多項的技術(shù),是二十多年技術(shù)、客戶反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。
應(yīng)用:
應(yīng)用于科研和工各領(lǐng)域,涵蓋了聚合物材料表征,集成光路測量,材料力學(xué)性能表征,MEMS制造,金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究,液晶材料性能表征,分子器件,生物傳感器,分子自組裝結(jié)構(gòu),光盤存儲,薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作。
原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式:接觸模式(contact mode) ,非接觸模式( non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode)。
Dimension® Icon™原子力顯微鏡以其的圖像分辨率,與布魯克的電子掃描算法相結(jié)合,提升了測量速度與成像質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于地位。配置溫度補償位置傳感器,實現(xiàn)了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平,將其應(yīng)用在90微米掃描范圍的大樣品臺體系上,使用效果優(yōu)于高分辨小樣品臺的開環(huán)噪音水平。全新設(shè)計的XYZ閉環(huán)掃描頭,即使在較高的掃描速度工作時,也不會損壞圖像質(zhì)量,實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量,是研發(fā)新技術(shù)*的助手.
實用性
高分辨率攝像頭配合集成控制樣品臺以及快速導(dǎo)航設(shè)計,可實現(xiàn)高效的多點測量;
線性工作流程設(shè)計使樣品觀察無縫過渡到高分辨率掃描,可在短時間內(nèi)提供數(shù)據(jù);
的設(shè)計
的傳感器設(shè)計使閉環(huán)系統(tǒng)獲得的精度;
低噪音值和漂移量,無論樣品尺寸大小都可實現(xiàn)測量;
綜合解決方案
模塊化設(shè)計在成本下提供高質(zhì)量圖像;
開放式樣品臺滿足客戶樣品規(guī)格需求;
集成布魯克所有掃描方式滿足的使用需求;
-35°C至+250°C工作穩(wěn)定,滿足各種使用環(huán)境;
內(nèi)置通用通信模塊,支持與其他儀器聯(lián)用。















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