Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Edge
Bruker公司的AFM具有技術，以其的性能應用于科研和工業
Dimension Edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些技術，達到了同類產品的水平，為納米尺度的科學研究提供了、高的*工具。
應用：
應用于科研和工各，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，薄膜性能表征等領域的監測等各類科研和生產工作。
原理：
將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針，針與樣品表面輕輕接觸，由于針端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針jian的微懸臂將對應于針jian與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。
原子力顯微鏡的工作模式是以針與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode)，非接觸模式（non - contact mode)和敲擊模式( tapping mode）。
特征：
u 低漂移和低噪音水平
u 閉環設計--zhuan li的傳感器設計使Edge的閉環掃描的噪音水平達到了開環掃描的水平
u 開放設計的樣品臺適用于各種實驗和不同尺寸的樣品
u 集成化的樣品臺既可以進行直觀的移動也具有很強的可編程功能控制
u 集成可視反饋和預先配置的參數設定，使初學者也可以簡單連續地得到級的數據
部分選擇項：
參數：
基本參數 | |
X-Y方向掃描范圍 | 90μm x 90μm（典型值），85μm（小值） |
Z方向掃描范圍 | 10μm（典型值）， μm（小值） |
縱向噪音水平 | <50pm rms值（在合適的環境，典型的成像帶寬條件下(可達625Hz)） |
XY方向閉環噪音水平 | < rms值（在典型的成像帶寬條件下(可達625Hz)） |
Z方向閉環噪音水平 | < rms值（在典型的成像帶寬條件下(可達625Hz)） |
樣品尺寸和固定方式 | 150mm直徑，真空吸附，15mm厚; 可選擇墊塊的情況下，可達40mm厚 |
馬達驅動樣品臺(X-Y軸) | 150mm x 150mm可觀測區域； 可編程進行多區域掃描 |
光學系統 | 5百萬像素數字攝像頭； 180μm至1465μm可視區域; 數字化縮放，馬達驅動聚焦 |
信號輸入輸出 | 控制器內置可配置的信號輸入/輸出; 包括可定制的信號輸入輸出，數字化反饋和雙數字化鎖相放大器 |
單點譜線 | 三軸閉環控制可實現point-and-shoot式定位和譜線測量; 內置了熱調諧方式的彈性常數校準功能; |
溫度控制 | 可選-35至+250℃加熱/冷卻附件； 包括氣體充換功能； |
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