Bruker原子力顯微鏡-- Dimension FastScan
Bruker公司的AFM具有多項技術，以其的性能應用于科研和
Dimension FastScanTM 原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension® Icon®的分辨率和的儀器性能前提下，限度的提高了成像速度。這項突破性的技術，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得高質量數據的時間,是掃描速度的原子力顯微鏡。
應用：
應用于科研，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，薄膜性能表征等領域的監測等各類科研和生產工作。
原理：
將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針，針與樣品表面輕輕接觸，由于針端原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針的微懸臂將對應于與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應于掃描各點的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。
原子力顯微鏡的工作模式是以針jian與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。
特征：
u
l 在空氣或液體中成像速度是原來速度的 100 倍，自動激光調節和檢測器調節，智能進針，大大縮短了實驗時間。
l 自動測量軟件和高速掃描系統結合，大幅提高了實驗數據的度和可重復性。
u 高分辨率
l FastScan的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。掃描速度 20Hz時仍能獲得高質量的 TappingModeTM圖像，掃描速度 6Hz 仍能獲得高質量的ScanAsyst 圖像。
l 低噪音，溫度補償傳感器展現出亞埃級的噪音水平。
u 在任何樣品上均有表現
l 閉環控制的 Icon和 FastScan掃描管降低了 Z方向噪音，使它們 Z 方向的噪音水平分別低于 30pm 和 40 pm，具有極低的熱漂移率，可得到分辨的真實圖像。
l Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證高度從埃級到 100多納米的樣品無失真掃描
部分選擇項：
參數：
X-Y掃描范圍： 35μm x 35μm（典型值）, 30μm zui小值）
Z掃描范圍： ≥3um
縱向噪音水平： <40pm rms 值（在合適的環境下，典型的成像帶寬zui高可達 625hz）
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