三維光學顯微鏡
布魯克作為三維表面測量與觀察,提供從微觀如MEMS(微機電系統)到宏觀如發動機腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代,在原有Wyko®專有技術基礎上,不斷積累,來保證面對各種應用環境時三維測量所需的高靈敏度和穩定性;而這一挑戰往往是其他測量技術或測量系統難以克服的。
布魯克三維光學顯微系統在一直以服務和支持著稱,在性上一貫良好。從研究型實驗室到生產型車間和半導體無塵間,數以幾千計的系統被使用。作為為質量控制和研發設計的測量儀器,可用于加工制造類應用的監控,在汽車、航空航天、高亮度LED、太陽能、半導體和科研領域,布魯克總有一款適合您應用和與預算的三維光學顯微測量系統。
ContourX-100 3D光學輪廓儀
粗糙度測量的精簡而經濟的臺式
ContourX-100光學輪廓儀以的為準確和可重復的非接觸式表面計量樹立了新的。小尺寸系統采用流線型封裝,可提供的2D / 3D高分辨率測量功能,并結合了數十年布魯克白光干涉測量(WLI)技術。具有測量功能的臺式系統具有進的用戶友好界面,可直觀訪問的預編程過濾器庫,并用于加工的表面,厚膜和摩擦學應用分析。下一代增強功能包括新的5 MP攝像頭,更新的載物臺和新的測量模式,以實現更大的靈活性。您不會發現比ContourX-100更有價值的臺式設備。
ContourX-100 3D光學輪廓儀
輪廓GT-K
的計量
ContourX-100輪廓儀是非接觸表面計量,表征和成像領域超過四十年的專有光學和行業。該系統利用3D WLI和2D成像技術在一次采集中進行多種分析。ContourX-100在從%到100%的反射率的所有表面情況下都非常堅固。
輪廓X-100
WLI為所有目標提供恒定且的垂直分辨率。
輪廓X-100
ContourX-100手動平臺。
的價值和分析
ContourX-100臺式機具有成千上萬的定制分析功能以及布魯克簡單而*的VisionXpress™和Vision64®用戶界面,為實驗室和工廠車間的生產率進行了優化。硬件和軟件相結合,可提供對高通量光學性能的簡化訪問,超越了同類計量技術。












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