Bruker三維光學表面輪廓儀-ContourGT-K0/白光干涉儀/表面形貌/粗糙度/三維輪廓等測量系統
布魯克作為三維表面測量與觀察的，提供從微觀如MEMS（微機電系統）到宏觀如發動機腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代，在原有WYKO® 專有技術基礎上，不斷積累，來保證面三維測量所需的高靈敏度和穩定性。 布魯克公司的光學輪廓儀在基本工作原理及應用方面擁有100多項，有超過30年的生產經驗，成熟的生產工藝保證了布魯克產品具有的性能。
布魯克 (Bruker) 是表面測量和檢測技術的，服務于科研和生產領域。新一代白光干涉儀ContourGT系列結合了的64位多核操作和分析處理軟件，技術白光干涉儀（WLI）硬件和的操作簡易性，是歷年來來進的3D光學表面輪廓儀系統。該系統擁有超大視野內亞埃級至毫米級的垂直計量范圍，樣品安裝靈活，且具有的測量重復性。ContourGT系列是當今生產研究和質量控制應用中，使用和直觀的3D表面計量平臺。
應用：
對LED行業、太陽能行業、觸摸屏行業、半導體行業以及數據存儲行業等，提供非接觸式測量方案，樣品從小至微米級別的微機電器件（MEMS），大到整個引擎部件，都可以獲得表面形貌、粗糙度、三維輪廓等數據
特征：
的垂直分辨率，大的測量性能；
~200倍的放大倍率；
任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程；
高分辨率攝像頭；
測量硬件的設計，增強生產環境中的可靠性和重復性；
較高的震動的容忍度和GR&R測量的能力
的自動校準能力；
多核處理器下運行的Vision64軟件，大大提高三維表面測量和分析速度
數據處理速度提高幾十倍；
分析速度提高十倍；
無以倫比的大量數據無縫拼接能力；
高度直觀的用戶界面，擁有的實用性，操作簡便和分析功能*
優化的用戶界面大大簡化測量和數據分析過程；
特的可視化操作工具；
可自行設置數據輸出的界面；
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