三維光學顯微鏡

布魯克作為三維表面測量與觀察的，提供從微觀如MEMS（微機電系統）到宏觀如發動機腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代，在原有Wyko®專有技術基礎上，不斷積累，來保證面對各種應用環境時三維測量所需的高靈敏度和穩定性；而這一挑戰往往是其他測量技術或測量系統難以克服的。

布魯克三維光學顯微系統在一直以服務和支持著稱，在性上一貫良好。從研究型實驗室到生產型車間和半導體無塵間，數以幾千計的系統被使用。作為門為質量控制和研發設計的測量儀器，可用于加工制造類應用的監控，在汽車、航空航天、高亮度LED、太陽能、半導體和科研領域，布魯克總有一款適合您應用和與預算的三維光學顯微測量系統。

ContourX-200 3D光學輪廓儀

用于表面紋理計量的靈活臺式

ContourX-200光學輪廓儀將的特性，可自定義的選項以及易用性融合，可提供的快速，準確和可重復的非接觸式3D表面度量。具有測量功能的小尺寸系統使用較大的FOV 5 MP數碼相機和電動XY位移臺，可提供毫不妥協的2D / 3D高分辨率測量功能。ContourX-200還配有業的操作和分析軟件Vision64®。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡化的功能，可訪問的預編程濾鏡和分析庫，用于加工的表面，厚膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學應用。ContourX-200具有的Z軸分辨率和精度，在不限制傳統共聚焦顯微鏡和競爭性標準光學輪廓儀的情況下，提供了布魯克白光干涉儀（WLI）技術的所有。

ContourX-200 3D光學輪廓儀

輪廓GT-K

毫不妥協的計量

基于ContourX-200光學輪廓儀超過四十年的專有WLI，該輪廓儀展現出定量計量所需的低噪聲，高速，和結果。通過使用多個目標和集成的特征識別功能，可以在各種視野內以亞納米級的垂直分辨率跟蹤特征，從而為非常不同的行業中的質量控制和過程監控應用提供了與比例無關的結果。ContourX-200在從％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅固。

輪廓X-200

WLI為所有目標提供恒定且的垂直分辨率。

輪廓X-200

ContourX-200電動載物臺。

的應用分析能力

利用*的VisionXpress和Vision64用戶界面，ContourX-200提供了數千種定制分析，以提高實驗室和工廠車間的生產率。系統新相機提供的更大FOV和電動XY工作臺提供的靈活性，為各種樣品和零件提供了更大的靈活性和更高的通量。硬件和軟件相結合，可提供對光學性能的簡化訪問，超越了同類計量功能。